bruker光學輪廓儀 Contour GT 系列光學輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用 結合了原子力顯微鏡和倒置光學顯微鏡并保留了兩者各自的優點，大大減少了對實驗的時間和精力的投入，是生命科學領域Z易用*的原子力顯微鏡。

Bruker AXS 掃描探針顯微鏡 Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產品中的產品，其閉環掃描的噪音水平接近一些開環掃描系統的水平，可廣泛應用于器件表征、物理、材料科學和生命科學領域。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗科用 Dimension Edge融合了布魯克 Dimension Icon 系列上所應用的一些創新技術，因而達到了同類產品的Z高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。